| |
TECNOLOGIA DE MATERIALS: CARACTERITZACIÓ MICROESTRUCTURAL
Per a la caracterització microestructural i estudis fractogràfics es disposa d' un microscopi electrònic de rastreig (FESEM) Zeiss Ultra plus que ofereix el servei de microscopia electrònica. També es disposa microscopis òptics (Nikon i Olympus) i un microscopi confocal Sensofar PL 2300 per completar aquests estudis.
La microscopia electrònica de rastreig d'emissió de camp (FESEM) permet estudiar les superfícies de fractura amb un altíssim nivell de resolució (de 50x a 20000x augments). Com a gran avantage respecte a altres equips convencionals, les mostres no requereixen altra preparació que una neteja sense alterar-ne la superfície. Es poden estudiar mostres no conductores (polímers, ceràmics, biològiques...) ja que disposa d'un sistema de compensació de càrregues.
S'usa un microscopi electrònic de rastreig d'emisió de camp marca Zeiss model Ultra-Plus. Aquest ve equipat amb un detector EDX (microanalitzador per dispersió d'energia de rajos X), detector EBSD (electron backscattered diffraction) i compensació de càrrega per a mostres no conductores (ceràmics...).
El microscopi permet visualitzar la superfície de les mostres sense tractar. Això possibilita:
- Determinar el mode de fractura: dúctil, fràgil intergranular, fràgil transgranular, fatiga...
- Determinar el punt d'origen de la fractura.
- Detectar porus, rebeguts o esquerdes.
- Identificar la microestructura i fases presents.
El mòdul EBSD permet obtenir una gran quantitat d'informació cristal·logràfica i estructural entre les quals es pot destacar:
- Detectar i classificar els grans.
- Determinar l'orientació dels grans.
- Determinar la textura del material.
- Classificar el tipus de vora de gra present.
El coneixement d'aquestes dades es molt important per interpretar el comportament mecànic , preveure el mode de fractura i comportament a corrosió.
El mòdul EDX permet:
- Realitzar anàlisi semiquantitatius generals i puntuals( fins 1 micròmetre).
- Generar mapes de composició ( distribució d'elements).
- Interactuar amb el mòdul EBSD per una millor caracterització.
La microscopia òptica permet estudiar la topografia de les fractures i realitzar estudis microestructurals mitjançant un microscopi binocular o un microscopi metal·logràfic connectats a un sistema digital de captació d'imatges i un programa d'anàlisi d'imatge. Aquests mitjançant el programari permeten prendre mesures fàcilment i quantificar percentatges de fases, porus, etc...
La microscopia confocal permet realitzar perfils de la zona de fractura i mesures en l'eix vertical respecte la mostra així com generar mapes de fondària respecte aquest eix.
<< Tornar
|
