| |
TECNOLOGIA DE MATERIALS: TRIBOLOGIA
ACTIVITATS:
- Disseny d’assaigs tribològics
- Caracterització tribològica de recobriments durs i acers d’eines
- Caracterització tribològica de recobriments decoratius
- Identificació i quantificació de mecanismes de desgast en processos industrials
EQUIPS:
- Tribòmetre universal CETR UMT-2
Aplicacions
Mesura de desgast i coeficients de fricció
Caracterització tribològica de materials i recobriments
Estudis a alta temperatura
Simulació de sistemes tribològics reals
Característiques
Multi-configuració: Pin-on-disc, ball-on-disc, scratch test i contacte amb moviment oscil·latori
Control de temperatura fins a 1000ºC
Càrrega normal 0.5-100 N
Sensors de resistència elèctrica i emissió acústica
|
|
|
- Tribòmetre DEIMA
Aplicacions
Caracterització tribològica bàsica
Mesura de desgast i coeficients de fricció
Estudi de parells reals de materials
Característiques
Configuració pin on disc
Càrrega normal fins a 65 N
|
|
|
- Abrasió
Desgast de superfícies en contacte a baixa càrrega amb partícules abrasives
- Microabrasió
Estudi del desgast en condicions de microabrasió
Mesura d’espessors de recobriment
Estudi de la relació entre duresa, adhesió i integritat del sistema
|
|
|
- Abrasió lineal TABER
Aplicacions
Estudi de desgast en condicions de contacte amb moviment oscil·latori
Característiques
Carrera: 12 a 100 mm
Velocitat: 2-75 cicles/minut
Càrrega normal ajustable entre 350 i 2100 g
Assajos de fins a 106 cicles
|
|
|
- Microscopi confocal SENSOFAR PLµ2300
Aplicacions
Caracterització topogràfica de superfícies: Mesura de rugositats, estudi qualitatiu de morfologia i obtenció de paràmetres descriptors quantitatius (2D i 3D)
Anàlisi de desgast
Imatges de microscòpia de superfícies no planes
Característiques
Obtenció de dades topogràfiques sense contacte amb la superfície
Magnificació de 100x a 1500x
Modes d’operació: Microscòpia confocal i interferometria
Resolució vertical: <10 nm (1500x) y <5 nm (interferometria)
|
|
|
<< Tornar
|
